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【關鍵突破:2024先進材料精準粒子分析研討會】


202405粒徑研討會1
 
本次研討會主題為「2024先進材料精準粒子分析研討會」,超過半世紀粒徑分析開發經驗的大塚電子株式會社的日本量測技術負責人分享最新的應用與量測上的knowhow,各種意想不到的界達電位、粒徑大小、表面電位等在各領域的關鍵突破。 此外,工研院背景的新銳公司邑流微測分享包括半導體及生醫製藥等熱門領域,聚焦在潔淨、智慧製造等關鍵字,引領ESG最新潮流。。
【新竹場】2024/05/21 13:00~
【台中場】2024/05/22 13:00~
【高雄場】2024/05/23 13:00~
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RETS series

液晶層間隙檢測設備RETS series

已注入液晶的液晶層間隙檢查(穿透型、反射型)・到全方位對應所有光學材料之位相差檢測需求

透過型液晶注入後的CELL GAP、彩色濾光片的EMPTY CELL * 1 。
可依照用途・目的選擇對應機種。

從小型的桌上型設備到大型自動檢測設備均可根據樣品尺寸選擇對應機型。

使用多通道分光光譜儀和偏振光學系統量測相位差。
可進行高速、高精度的解析。

完整支援反射式液晶量測用途的光學量測系統。
可對應各種液晶的CELL GAP以及光學膜評價。

注) * 1:尚有其他對應機種。

量測項目

  • 已灌入液晶的液晶層間隙(穿透型、反射型)
  • 相位延遲
  • 橢圓率
  • 方位角
  • 配向角(光學軸)
  • 扭轉角(Twist angle)
  • 預傾角(Pretilt angle) ※選配功能
  • 偏光度(※選配功能)
  • 尚未灌入液晶的液晶層間隙 (※選配功能)

產品資訊

產品特色
・以穿透、半穿透方式量測TFT、STN,以及不同驅動模式的VA、IPS及強誘電性液晶,也支援反射型TFT、STN液晶。依照用途,從研發到品管皆有完整對應機種。
・除檢測液晶層間隙(Cell gap),也可量測液晶面板及液晶材料相位差。
橢圓率、方位角等偏光解析,光學軸、色度、穿透、反射光譜等綜合性的多功能檢測裝置。
 
量測項目
・封入cell gap
・twist angle *
・rubbing angle*
・pretile angle[TN,IPS,FFS,MVA] *
・空cell gap *
・複屈折位相差的波長分散 *
・光學軸 *
・橢圓率/方位角 *
・三次元屈折率/Rth/β *
・分光光譜/色度 *
 
量測對象
・液晶cell
 - 透過、半透過型液晶cell(TFT、TN、STN、IPS、VA、OCB、強誘電)
 - 反射型液晶cell(TFT、TN、IPS、VA)
・光學材料
 - 其他(位相差・橢圓・偏光film、液晶材料)
 

產品規格

  RETS-Series
樣品對應尺寸 20mm × 20mm ~ 大型尺寸玻璃基板(2000mm × 2000 mm 以上)
液晶層間隙
量測範圍
0.1 μm ~ 數十 μm
液晶層間隙
量測再現性
± 0.005μm
檢測器 分光光譜儀
量測波長範圍 400 ~ 800nm
光學系統 偏光光學系統 / 消光率10-5方解石偏光片(Gran-tomson prism)
自動旋轉(角度精度0.1°) / 自動裝卸裝置
量測口徑 φ2, 5, 10 (mm)
光軸傾斜角度 -10 ~ 45°(選配功能)
重量 約60KG

量測範例

相位差與液晶層間隙值
擷取28
 
液晶面內分布圖
擷取29
 

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