產品特色

以穿透、半穿透方式量測TFT、STN，以及不同驅動模式的VA、IPS及強誘電性液晶，也支援反射型TFT、STN液晶。視用途，從研發到品管皆有完整對應機種

除檢測液晶層間隙(Cell gap)，也可量測液晶面板及液晶材料相位差。
橢圓率、方位角等偏光解析，光學軸、色度、穿透、反射光譜等綜合性的多功能檢測裝置

量測項目

已灌入液晶的液晶層間隙（穿透型、反射型）

尚未灌入液晶的液晶層間隙※

相位延遲

配向角（光學軸）

方位角

橢圓率

扭轉角（Twist angle）

偏光度※

膜厚※

預傾角（Pretilt angle）※

※選配功能

規格樣式

	RETS-Series
樣品對應尺寸	20mm × 20mm ~ 大型尺寸玻璃基板（2000mm × 2000 mm 以上）
液晶層間隙 量測範圍	0.1 μm ~ 數十 μm
液晶層間隙 量測再現性	± 0.005μm
檢測器	分光光譜儀
量測波長範圍	400 ~ 800nm
光學系統	偏光光學系統 / 消光率10-5方解石偏光片（Gran-tomson prism） 自動旋轉（角度精度0.1°） / 自動裝卸裝置
量測口徑	φ2, 5, 10 （mm）
光軸傾斜角度	-10 ~ 45°（選配功能）
重量	約60kg

應用範圍

液晶顯示器液晶層 ・穿透、半穿透型液晶層（TFT、TN、STN、IPS、VA、OCB、強誘電性液晶） ・反射型液晶層（TFT、STN） 光學材料 ・其它（相位差膜、橢圓膜、偏光膜、液晶顯示器材料）

量測範例

相位差與液晶層間隙值 液晶面內分布圖