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相位差 / 光學材料量測設備RETS-100

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相位差/光學材料量測設備

光學膜偏光特性
        ~相位差膜・光學材料等~

產品特色

可更加精確的量測低相位差(0.1nm ~)

最適合作為評估相位差的波長分散、自動檢測配向角(光學軸)或角度配向性等光學膜偏光特性的裝置

檢測器採用多頻譜分光光譜儀,展現任一個波長的高精度相位差量測

可選配傾斜式、旋轉式量測平台,評估三次元折射率參數解析等視野角特性

配合量測樣品,自由架構量測平台

量測項目

相位差的波長落差

液晶層間隙(Cell gap)

配向角(光學軸)

方位角

橢圓率

偏光度

穿透率

色度

三次元折射率參數

規格樣式

RETS-100
樣品對應尺寸 最小20 × 20mm ~ 最大100 × 100mm(厚度:2.5mm 以下)
相位差量測範圍
旋轉檢光法
約0nm ~ 數μm
相位差量測範圍
光干涉法
約450nm ~ 數μm
檢測器 分光光譜儀
量測波長範圍 400 ~ 800nm
量測口徑 φ1、φ2、 φ5、φ10 mm
光學系統 偏光光學系統 / 消光率10-5方解石偏光片(Gran-tomson prism)
自動旋轉(角度精度0.1°) / 自動裝卸裝置
量測用光原 100W鹵素燈
電源供應器規格 AC100V±10V、1.5kVA
尺寸 540(W) × 580(D) × 1000(H) mm
重量 約60kg

應用範圍

光學薄膜 ・相位差膜、橢圓膜、相位差板 ・偏光膜、附加功能偏光膜、偏光板、其它光學材料 液晶層 ・穿透、半穿透型液晶層(TFT、TN、STN、IPS、VA、OCB、強誘電性液晶) ・反射型液晶層(TN,STN)

量測範例

已知入射角度的相位差量測 已知入射角度的相位差量測
三次元折射率參數解析 三次元折射率參數解析