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相位差量測系統RETS-100nx

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相位差/光學材料量測設備

兼具廣泛用途與高精度
    所有光學機能膜材皆可對應

產品特色

量測項目・応用範囲

  • 薄膜、光學材料 Retardation(波長分散)、遲相軸、Rth(*1)、3維折射率(*1) 等
  • 偏光板 吸収軸、偏光度、消光比、各種色度、各種穿透率 等
  • 液晶Cell Cell Gap、Pre-tilt角(*1)、Twist角、配向角等
  • *1:需要傾斜旋轉量測台。(選購品)
所有產業應用
光學薄膜
  • 相位差膜、橢圓膜、相位差板・偏光膜、附加功能偏光膜、偏光板、其它光學材料
液晶層
  • 穿透・半穿透型液晶層(TFT、TN、STN、IPS、VA、OCB、強誘電性液晶)、反射型液晶層(TN,STN)

規格樣式

RETS-100nx
Retardation
量測範圍
0 ~ 60,000nm
Retardation
可反覆操作
3σ≦0.08nm(水晶波長板 約600nm)
Cell Gap
量測範圍
0 ~ 600μm(當Δn=0.1時)
Cell Gap
可反覆操作
3σ≦0.005μm(當Cell Gap約3μm、Δn=0.1時)
軸檢出
可反覆操作
3σ≦0.08°(水晶波長板 約600nm)
量測波長範圍 400 ~ 800nm(有其他選擇)
探測器 多通道分光光譜儀
量測外徑 φ2 or φ5㎜(標準規格)
光源 100W 鹵素燈
數據處理部 個人電腦、伺服器
量測台尺寸
標準
100mm × 100mm(固定量測台)
設備尺寸 W480 × D520 × H765mm
選購品 ‧超高Retardation量測
‧多層量測
‧軸角度補償功能
‧XY量測台(自動・手動)
‧傾斜旋轉量測台(自動・手動)
光學系列

量測範例