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低相位差高速檢測設備RE-200

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低相位差高速檢測設備RE-200

低相位 & 差光學軸高速同時檢出

產品特色

可測量從0nm開始的低相位差(殘留應力)

檢測光學軸的同時,同步高速測量相位差(Re.)(0.1秒以下的高速同時量測)

偏光檢測儀無任何驅動元件干擾,可提高再現性量測精度

無需複雜參數設定,操作簡單易懂

550nm以外,亦可支援其它波長量測

Rth量測、全角度量測(需搭配自動旋轉傾斜裝置)

搭配拉力測試機可同時量測薄膜偏光特性與光彈性(特殊規格)

量測項目

相位差(ρ[deg.]・Re[nm])

光學軸方位角(θ[deg.])

橢圓率(ε)

方位角(γ)

三次元屈折率(NxNyNz)

規格樣式

RE-200
樣品尺寸 最小10 × 10mm ~ 最大100 × 100mm
量測波長 550nm(標準規格)※1
相位差
量測範圍
約0nm ~ 約10μm
相位差
量測精度
0.05nm(3σ)※2
光學軸
量測精度
0.05°(3σ)※2
解析元件 偏光檢測儀
量測口徑 2.2mm × 2.2mm
通訊介面 100W鹵素燈 或 LED光源
尺寸 300(W) × 560(H) ×430(D) mm
重量 約20kg

※1可選擇其他波長

※2量測水晶波長板之精度(約55nm,2枚型)

應用範圍

相位差膜、偏光膜、橢圓膜、視野角改善膜、各種機能性薄膜 樹脂、玻璃等透明帶有低相位差之樣品(殘留應力)

量測原理 & 量測範例

量測原理
RE-100,係採用光結晶像素與CCD感光元件所構成的偏光檢測儀。搭配帶有穿透率特性的各種偏光元件,可以高速同時進行相位差與光學軸的量測。 量測原理
CCD感光元件會自動擷取經過偏光後所呈現的畫面進行解析。相較以往,不需要再使用任何的驅動元件來尋找偏光後的受光強度。不但可提高再現性的精度、更具備長時間使用的安定性。 量測原理
量測範例
視野角改善膜 A ・視野角改善膜 A
視野角改善膜 B ・視野角改善膜 B

選配附件

自動旋轉傾斜裝置

偏光檢測儀在生產線上的應用(In-line Process)

USB傳輸,可適用於多種環境的架設 超高速量測,最適用於生產線中的即時監控 可搭配複數偏光檢測儀,同時進行多點位、多角度(Rth)量測 偏光檢測儀在生產線上的應用(In-line Process)