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MicroLed chip 光度量測系統AL-1000

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MCPD-Series

高精度、高感度、高再現性
實現1ucd超低亮度量測

產品特色

對應CIE-127 condition B(100mm)量測條件

搭配探針式電極

最低亮度1ucd值量測(WD=20mm)

內建CCD, 量測點位採雷射對位

量測範圍

A. 光度(cd)測定範囲 : 1[ucd]-500[cd] B. 最小光度測定範囲 : 1ucd@WD20mm,5ucd@WD100mm,100ucd@500mm*1 C. 最大発光面的直径 : 100mm D. 量測距離 : 20,100,500mm
所有產業應用

規格樣式

MicroLed chip 光度量測系統
測定治具 光學套筒
給電方式 PROBE NEEDLE STATION
感光元件 CCD AREA SENSOR 512CH,TE-cooled
精度 A. 光度(cd) : ±4% ; B. 波長 : ±0.5nm ; C. 色度(x,y) : ±0.002
再現性 A. 光度(cd) : ±2% ; B. 色度(x,y) : ±0.002
感度 光度(cd)測定範囲 : 1[ucd]-500[cd]
最小光度 : 1ucd@WD20mm,5ucd@WD100mm,100ucd@500mm*1
最大発光面的直径 : 100mm
量測距離 : 20,00,500mm
電源 Keithley 2450
量測項目 電気特性
(1) DC順方向電圧(VF,V) ; (2) DC順方向電流(IF,A)
光學特性
(1) 光度(cd) ; (2) CIE X,Y,Z ; (3) CIE x,y,z ; (4) CIE u,v ; (5) CIE u’,v’ ; (6) WP ;(7) WPV ; (8) WD ; (9) FWHM ; (10) CP ; (11) CCT ; (12) Duv,CRI Ra

軟體畫面

軟體畫面

系統架構圖

系統架構