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MicroLed chip 光度量測系統AL-1000
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高精度、高感度、高再現性
實現1ucd超低亮度量測
產品特色
對應CIE-127 condition B(100mm)量測條件
搭配探針式電極
最低亮度1ucd值量測(WD=20mm)
內建CCD, 量測點位採雷射對位
量測範圍
A. 光度(cd)測定範囲 : 1[ucd]-500[cd] B. 最小光度測定範囲 : 1ucd@WD20mm，5ucd@WD100mm，100ucd@500mm*1 C. 最大発光面的直径 : 100mm D. 量測距離 : 20，100，500mm所有產業應用
規格樣式
| MicroLed chip 光度量測系統 | |
| 測定治具 | 光學套筒 |
| 給電方式 | PROBE NEEDLE STATION |
| 感光元件 | CCD AREA SENSOR 512CH，TE-cooled |
| 精度 | A. 光度(cd) : ±4% ; B. 波長 : ±0.5nm ; C. 色度(x,y) : ±0.002 |
| 再現性 | A. 光度(cd) : ±2% ; B. 色度(x,y) : ±0.002 |
| 感度 | 光度(cd)測定範囲 : 1[ucd]-500[cd] |
| 最小光度 : 1ucd@WD20mm，5ucd@WD100mm，100ucd@500mm*1 | |
| 最大発光面的直径 : 100mm | |
| 量測距離 : 20，00，500mm | |
| 電源 | Keithley 2450 |
| 量測項目 | 電気特性 |
| (1) DC順方向電圧(VF，V) ; (2) DC順方向電流(IF，A) | |
| 光學特性 | |
| (1) 光度(cd) ; (2) CIE X，Y，Z ; (3) CIE x，y，z ; (4) CIE u，v ; (5) CIE u’，v’ ; (6) WP ;(7) WPV ; (8) WD ; (9) FWHM ; (10) CP ; (11) CCT ; (12) Duv，CRI Ra |
軟體畫面
系統架構圖
