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- 膜厚光譜分析儀系統 MCPD-Series
提供豐富選配套件以及客製化光纖，
可依據安裝現場需求評估設計，
是一套可靈活架設於各種環境下的最佳即時量測系統
膜厚量測
半導體晶圓膜（氧化膜、氮化膜、光阻膜）
光阻剝離液厚度、濕狀薄膜
塗佈膜（Coating膜、蒸鍍膜、接著劑、壓克力樹脂、光碟片膜層、薄膜磁頭）
樹脂膜（PET、PP、PE、PC、Nylon）、機能性薄膜、包裝膜
膜厚量測(分光光譜儀 + 顯微鏡)
半導體晶圓膜（氧化膜、氮化膜、光阻膜）
光阻剝離液厚度、濕狀薄膜
塗布膜（Coating膜、蒸鍍膜、接著劑、壓克力樹脂、光碟片膜層、薄膜磁頭）
樹脂膜（PET、PP、PE、PC、Nylon）、機能性薄膜、包裝膜
影印機感光鼓膜厚度量測
半導體晶圓膜（氧化膜、氮化膜、光阻膜）
光阻剝離液厚度、濕狀薄膜
塗布膜（Coating膜、蒸鍍膜、接著劑、壓克力樹脂、光碟片膜層、薄膜磁頭）
樹脂膜（PET、PP、PE、PC、Nylon）、機能性薄膜、包裝膜
LB膜量測
蒸餾膜量測
多點膜厚量測
半導體晶圓膜（氧化膜、氮化膜、光阻膜）
光阻剝離液厚度、濕狀薄膜
塗布膜（Coating膜、蒸鍍膜、接著劑、壓克力樹脂、光碟片膜層、薄膜磁頭）
塑膠膜（PET、PP、PE、PC、Nylon）、機能性薄膜、包裝膜
