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應對從紫外到紅外線領域的多功能多通道分光光譜檢測器，最快只需5ms就可量測出分光光譜。
透過各類客製化設計,可應對做出各式各樣的量測。
相關技術應用可參考📖 技術文章-光譜儀📖
也可以直接洽詢我們📞洽詢光譜儀相關設備📧
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多通道分光光譜儀MCPD-9800
高速,高再現性,高動態範圍的三高完美演出。從紫外到紅外線領域的多功能多通道分光光譜檢測器
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多通道分光光譜儀MCPD-6800
用途最多！ 通用性最高的標準機型光譜儀。
最短16msec、可對應生產線上高速量測 -
崁入式膜厚量測儀
能觀測半導體成膜過程的all-in-one型膜厚儀。
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相位差檢測設備RETS-100nx
高機能光學薄膜及CELL GAP量測
並具多功能性和高精度的相位差量測設備 -
低相位差高速檢測設備RE-200
可對應In Line以及Off Line的高速偏光量測需求。
同時量測低相位差與光學軸的時間不到0.1秒。 -
量子效率量測系統QE-2100
藉由絕對量子效率量測內部量子效率、外部量子效率
可量測粉體、固體、液體、薄膜樣品量子效率 -
微小化反射率量測設備及LED導線架
投光SPOT 0.2mm, 無須調整焦距
45度入射45度出射, 搭配積分球可量測全光束 & 擴散反射率
搭配多通道分光光譜儀 MCPD9800可依照需求更換量測波長範圍
配有CCD可以做量測點位確認 -
晶圓厚度&線上膜厚量測設備GS-300 series
無須搬送one through、降低Wafer的汚染與高效率的Wafer量測提案可裝載安裝於連接埠區域上