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以光散射技術為基礎開發的各項材料基礎物性值分析。
項目包括界達電位(Zeta potential)、粒徑(Particle size)、固體表面電位等等。
主力產品為界達電位粒徑分析儀ELSZ系列，多檢體奈米粒徑分析儀nanoSAQLA。
橫跨半導體、顯示器、顏料、高分子、先進材料、醫藥、食品、環境能源等等領域。
相關技術應用可參考📖 技術文章-物性分析📖
也可以直接洽詢我們📞洽詢物性分析相關設備📧
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界達電位粒徑分析儀ELSZneo
⭕高濃度粒徑、界達電位量測⭕
⭕固體表面電位量測⭕
⭕高鹽度界達電位量測⭕ -
界達電位粒徑分析儀ELSZ-2000ZS
稀溶液到濃溶液，奈米粒徑到固體表面電位評價
搭載業界最高功率半導體雷射及高感度APD -
多檢體奈米粒徑分析儀nanoSAQLA
兼具品質、顏值、CP值的多檢體粒徑分析專用機
一鍵5連量測+繁中介面好方便 -
多檢體奈米粒徑量測自動進樣系統nanoSAQLA+AS50
最多連續量測50個檢體奈米粒徑量測
實現小容量、高速、無汙染自動 -
靜態光散射光度計SLS-6500HL
動態光散射法分析粒徑、量測粒徑分佈。靜態光散射法量測絕對分子量、分子旋轉半徑與第二維里係數
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高分子相結構分析系統PP-1000
使用小角光散射法(SALS)，即時連續量測高分子或薄膜的構造變化