依據歐盟施行的個人資料保護法，我們致力於保護您的個人資料並提供您對個人資料的掌握。 我們已更新並將定期更新我們的隱私權政策，以遵循該個人資料保護法。請您參照我們最新版的 隱私權聲明。
本網站使用cookies以提供更好的瀏覽體驗。如需了解更多關於本網站如何使用cookies 請按 這裏。
-
光波動場3D顯微鏡 MINUK
無需逐層對焦，高速量測(2秒)後可自由觀察樣品所有任意深度。實現奈米級的非接觸3D量測。
-
相位差檢測設備RETS-100nx
高機能光學薄膜及CELL GAP量測
並具多功能性和高精度的相位差量測設備 -
低相位差高速檢測設備RE-200
可對應In Line以及Off Line的高速偏光量測需求。
同時量測低相位差與光學軸的時間不到0.1秒。 -
LineScan線上膜厚檢測系統
採用Line Scan線掃描方式，實現高速且高精度的全面性光學膜檢測
-
量子效率量測系統QE-2100
藉由絕對量子效率量測內部量子效率、外部量子效率
可量測粉體、固體、液體、薄膜樣品量子效率 -
量子點光阻EQE量測儀 TQ-10
用於量子點光阻材料之EQE 量測。
TQ-10型是一款輕巧、且易於使用的小型量測儀器。