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多通道分光光譜儀MCPD-9800
高速,高再現性,高動態範圍的三高完美演出。從紫外到紅外線領域的多功能多通道分光光譜檢測器
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顯微分光膜厚量測儀OPTM series
高精度、高再現性量的非接觸式顯微膜厚計。最小對應spot約3μm、單點對焦加量測於1秒內完成
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量子效率量測系統QE-2100
藉由絕對量子效率量測內部量子效率、外部量子效率
可量測粉體、固體、液體、薄膜樣品量子效率 -
LED 高速光譜分析儀LE-5400
LED光學特性高速評價
可配合生產線，或裝置中的點燈訊號同步高速測量 -
配光量測系統GP series
光度分佈角度量測・配光特性評價
符合標準的量測。配光分布數據與色度可同時量測 -
光通量量測系統(積分球/積分半球)FM/HM series
發光功率評價所不可欠缺的光通量量測
HM series(半球) 與FM series (全球) -
micro LED光度量測系統 AL-1000
對應CIE-127 condition B(100mm)量測條件
搭配探針式電極最低亮度1ucd值量測(WD=20mm)
內建CCD, 量測點位採雷射對位
量測範圍
A. 光度(cd)測定範囲 : 1[ucd]-500[cd]
B. 最小光度測定範囲 : 1ucd@WD20mm，5ucd@WD100mm，100ucd@500mm*1
C. 最大発光面的直径 : 100mm
D. 量測距離 : 20，100，500mm -
晶圓厚度&線上膜厚量測設備GS-300 series
無須搬送one through、降低Wafer的汚染與高效率的Wafer量測提案可裝載安裝於連接埠區域上