依據歐盟施行的個人資料保護法,我們致力於保護您的個人資料並提供您對個人資料的掌握。 我們已更新並將定期更新我們的隱私權政策,以遵循該個人資料保護法。請您參照我們最新版的 隱私權聲明。
本網站使用cookies以提供更好的瀏覽體驗。如需了解更多關於本網站如何使用cookies 請按 這裏。
以穿透、半穿透方式量測TFT、STN以及不同驅動模式的VA、IPS及強誘電性液晶,也支援反射型TFT、STN液晶。從研發階段到品管工程完整對應機種。
相關技術應用可參考📖 技術文章-光譜儀📖
也可以直接洽詢我們📞洽詢光譜儀相關設備📧
相關技術應用可參考📖 技術文章-光譜儀📖
也可以直接洽詢我們📞洽詢光譜儀相關設備📧
-
顯微分光膜厚量測儀OPTM series
高精度、高再現性量的非接觸式顯微膜厚計。最小對應spot約3μm、單點對焦加量測於1秒內完成
-
相位差檢測設備RETS-100nx
高機能光學薄膜及CELL GAP量測
並具多功能性和高精度的相位差量測設備 -
低相位差高速檢測設備RE-200
可對應In Line以及Off Line的高速偏光量測需求。
同時量測低相位差與光學軸的時間不到0.1秒。 -
液晶層間隙檢測設備RETS series
全方位對應所有光學材料之位相差檢測需求
已注入液晶的液晶層間隙(穿透型、反射型)