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多通道分光光譜儀MCPD-9800
高速,高再現性,高動態範圍的三高完美演出。從紫外到紅外線領域的多功能多通道分光光譜檢測器
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顯微分光膜厚量測儀OPTM series
高精度、高再現性量的非接觸式顯微膜厚計。最小對應spot約3μm、單點對焦加量測於1秒內完成
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光波動場3D顯微鏡 MINUK
無需逐層對焦，高速量測(2秒)後可自由觀察樣品所有任意深度。實現奈米級的非接觸3D量測。
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相位差檢測設備RETS-100nx
高機能光學薄膜及CELL GAP量測
並具多功能性和高精度的相位差量測設備 -
低相位差高速檢測設備RE-200
可對應In Line以及Off Line的高速偏光量測需求。
同時量測低相位差與光學軸的時間不到0.1秒。 -
LineScan線上膜厚檢測系統
採用Line Scan線掃描方式，實現高速且高精度的全面性光學膜檢測
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量子點對應彩色濾光片色度檢查 顯微分光測定裝置 TLCF 200QD
本製品為可對應量子點的彩色濾光片在RGB發光狀態下之色度評價裝置
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彩色濾光片色度檢查 小型高精細顯微分光測定裝置 TLCF-110-SF
桌上型彩色濾光片檢測設備LCF6000進化
對應微小畫素Spot size φ2um -
液晶層間隙檢測設備RETS series
全方位對應所有光學材料之位相差檢測需求
已注入液晶的液晶層間隙（穿透型、反射型） -
Inline線上即時檢測(彩色濾光片製程)
可架設於彩色濾光片前段製程中、進行色度，膜厚，OD，反射率的線上即時檢測
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動態畫面反應時間檢測儀MPRT-2000
藉由模擬人類眼球移動方式進行各種顯示器之高精度量測可更貼近於人類的真實視覺。
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顯示器面板&模組檢測設備LCD series
主要針對小型~大型LCD面板在-35度~90度的環境下進行光學電氣特性量測評價
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量子效率量測系統QE-2100
藉由絕對量子效率量測內部量子效率、外部量子效率
可量測粉體、固體、液體、薄膜樣品量子效率 -
LED 高速光譜分析儀LE-5400
LED光學特性高速評價
可配合生產線，或裝置中的點燈訊號同步高速測量 -
配光量測系統GP series
光度分佈角度量測・配光特性評價
符合標準的量測。配光分布數據與色度可同時量測 -
光通量量測系統(積分球/積分半球)FM/HM series
發光功率評價所不可欠缺的光通量量測
HM series(半球) 與FM series (全球) -
micro LED光度量測系統 AL-1000
對應CIE-127 condition B(100mm)量測條件
搭配探針式電極最低亮度1ucd值量測(WD=20mm)
內建CCD, 量測點位採雷射對位
量測範圍
A. 光度(cd)測定範囲 : 1[ucd]-500[cd]
B. 最小光度測定範囲 : 1ucd@WD20mm，5ucd@WD100mm，100ucd@500mm*1
C. 最大発光面的直径 : 100mm
D. 量測距離 : 20，100，500mm -
晶圓厚度&線上膜厚量測設備GS-300 series
無須搬送one through、降低Wafer的汚染與高效率的Wafer量測提案可裝載安裝於連接埠區域上
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量子點光阻EQE量測儀 TQ-10
用於量子點光阻材料之EQE 量測。
TQ-10型是一款輕巧、且易於使用的小型量測儀器。