低相位差高速檢測設備RE-200

產品資訊

產品特色

⦿可測量從0nm開始的低相位差(殘留應力)
⦿檢測光學軸的同時，同步高速測量相位差(Re.)(0.1秒以下的高速同時量測)
⦿偏光檢測儀無任何驅動元件干擾，可提高再現性量測精度
⦿無需複雜參數設定，操作簡單易懂
⦿550nm以外，亦可支援其它波長量測
⦿Rth量測、全角度量測需搭配自動旋轉傾斜裝置(僅對應Off Line)
⦿搭配拉力測試機可同時量測薄膜偏光特性與光彈性(特殊規格)
 

Off Line用途(離線檢測)

⦿相位差膜、偏光膜、橢圓膜、視野角改善膜、各種機能性薄膜
⦿樹脂、玻璃等透明帶有低相位差之樣品(殘留應力)
 

Off Line用途(選配部品)

⦿Rth量測、全角度量測需搭配自動旋轉傾斜裝置 (僅對應Off Line)

 

In Line用途(線上即時檢測)

⦿最適用於生產線中的即時監控可搭配複數偏光檢測儀。同時進行多點位、多角度(Rth)量測
⦿最短0.05秒（20Hz）的高速節拍時間
⦿輕巧設計、省設置空間
⦿實現高可靠性、高重複性
　
 

規格樣式

	RE-200
樣品尺寸	最小10 × 10mm ~ 最大100 × 100mm
量測波長	550nm(標準規格)※1
相位差量測範圍	約0nm ~ 約10μm
相位差量測精度	0.05nm(3σ)※2
光學軸量測精度	0.05°(3σ)※2
解析元件	偏光子Array
量測口徑	2.2mm × 2.2mm
量測光源種類	100W鹵素燈 或 LED光源
尺寸	300(W) × 560(H) ×430（D) mm
重量	約20kg

※1可選擇其他波長
※2量測水晶波長板之精度(約550nm，2枚型)

量測原理 & 量測範例

量測原理
■RE-200主要是採用光結晶像素與CCD感光元件所構成的偏光檢測系統。
　搭配帶有穿透率特性的偏光元件，可高速進行相位差與光學軸的量測。
　

■量測模組內的CCD感光元件會自動擷取經過偏光後所呈現的畫面進行解析。
　相較以往傳統偏光系統，不需要再使用任何的驅動元件來尋找偏光後的受光強度。
　除了可提高再現性的精度、更具備長時間量測的安定性。
　

量測範例