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MCPD-6800
多通道分光光譜儀MCPD-6800
用途最多! 通用性最高的標準機型光譜儀
多通道分光光譜儀高速量測紫外光(UV)、可見光(VIS)、近紅外光(NIR)光譜
最短16msec、可對應生產線上高速量測。最長65sec的露光時間亦可對應。
感光元件是電子制冷型光電二極管陣列 PDA-512ch。展現出優異的高再現性
不限制標準配備光纖及樣品種類,可對應各種光學測定系統
功能豐富的專用軟體,可進行顯微分光、表面反射率、穿透率、色度、膜厚等光譜量測
多通道分光光譜儀高速量測紫外光(UV)、可見光(VIS)、近紅外光(NIR)光譜
最短16msec、可對應生產線上高速量測。最長65sec的露光時間亦可對應。
感光元件是電子制冷型光電二極管陣列 PDA-512ch。展現出優異的高再現性
不限制標準配備光纖及樣品種類,可對應各種光學測定系統
功能豐富的專用軟體,可進行顯微分光、表面反射率、穿透率、色度、膜厚等光譜量測
量測項目
- 光譜儀客製化方案
- 穿透、吸收光譜
- 反射光譜
- 發光光譜
- 光度
- 色度 Chromaticity
- 偏光度
產品資訊
產品特色 |
・16msec的高速光譜解析
・功能豐富的專用軟體,可進行顯微分光、發光光源、表面反射率、穿透率、色度、膜厚等光譜量測
・不限制標準配備光纖及樣品種類,可對應各種光學測定系統
・迷光率較歷代機種減少1/5
・實現高速化曝光時間及高線性
・輕量化裝置,容積比較過去機種減少約60%
♦根據用途的各種檢測器陣容
以最高階機種MCPD-9800為首,有3種類12個波長範圍的檢測器。可依照客戶的需求及量測用途,選擇最合適的檢測器。
♦通信介面可對應USB及LAN
具備通用的USB接口及搭載遠程遙控量測的LAN通信功能,使得便利性及測量用途的範圍增加。♦高速・高感度測量光譜
針對時時變化的紫外線、可視光、近紅外領域的發光、透過及吸收光譜,利用512ch或1024ch的檢測單位及檢測器內部記憶體,可以最高速5微秒(使用MCPD-9800的情況下)為間隔進行高感度及高精度的測量。♦利用光纖搭建自由好用的光學系
透過標配的光纖,不受樣品形狀及大小的約束,可自由搭建想要的光學系。此外,可簡單與顯微鏡及大型平台等其他裝置組合,因此在任何領域都可發揮卓越的性能。
可靠性 |
♦對應日本工業標準(JIS)!可提供高性能的分光測光器
MCPD符合日本工業標準JIS Z8724(颜色的量測方法-光源色)中對分光測光器的精度要求。1.波長刻度的正確性
波長的偏差低於0.5m以下
2.測光刻度的正確性
強度比2:1的直線偏差低於0.5%以內
此時的再現性於0.2%以內
強度比10:1的直線偏差低於1%以內
此時的再現性於0.5%以內
3.雜散光
白熾燈作為光源時450nm的雜散光於1.0%以下
4.有效受光面
不感帶的分散方向的寬度,於受光素子的間隔的1/5以下
5.準直儀
焦點距離和繞射光柵的刻線密度和面積於3x 10^4以上
♦可追溯至國家標準,提供可靠的校正服務
在根據计量法制定的校正實驗室註冊制度(JCSS*1註冊制度)下,大塚電子的光計測實驗室被認證為屬於“光”註冊分類的國際MRA*2應對的JCSS校正實驗室。為了能公正評估照明器具和光源的性能,不分國内海外都不斷推進光特性的測定方法等各種標準化,這些標準化所要求的測光,均以“光”的可追溯性為基礎。
大塚電子透過「光」的校正事業,提供測光的可追溯性, 不斷為普及及發展節能環保的照明貢獻一份心力。
*1 JCSS(Japan Calibration Service System):計量法校正事業者登録制度
*2 国際MRA(Mutual Recognition Agreement):國際相互承認
豐富的客製化項目 |
藉由累積的技術與專業知識、提供比客戶需求更進一步的“最佳方案”。
規格樣式
2285C | 3095C | 3683C | 3610C | |
---|---|---|---|---|
波長範圍 | 220~850nm | 300~950nm | 360~830nm | 360~1000nm |
分光光柵 | 全息成像光柵 | |||
感光元件 | 電子制冷型光電二極管陣列 (PDA ) 512ch | |||
解析能力 (nm/素子) |
1.5 | 1.5 | 1.1 | 1.7 |
曝光時間 | 16msec ~ 65sec | |||
光纖規格 | 石英製光纖、固定口徑φ12mm、長約2m | |||
通訊介面 | USB or LAN | |||
消費電力 | 100VA、 單相 AC 100 ~ 230V 50/60 Hz | |||
尺寸重量 | 105(W)x 280(H)x 215(D)mm、約6kg |
裝置構成
technical article
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捲膜速度除了考驗生產機台本身以外,對光學式量測膜厚的穩定度也是一大考驗。
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