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LE-5400
LED 高速光譜分析儀LE-5400
架設於製程線上的LED光學特性高速量測
◎可配合LED生產線，或裝置中的點燈訊號同步高速測量
◎透過Windows API關數(.dll)與客戶端所使用的程式連結，
提供數據解析及量測結果（客戶端須具備程式開發能力）
◎靈活運用各種光纖架構，提供合格判定，級別分類等不可或缺的品質管理
◎感光元件具備有電子冷卻功能，輕鬆應付長時間的連續量測
◎高速化的量測，不妥協的高再現性數據
◎VCSEL量測 800-1000nm
◎可配合LED生產線，或裝置中的點燈訊號同步高速測量
◎透過Windows API關數(.dll)與客戶端所使用的程式連結，
提供數據解析及量測結果（客戶端須具備程式開發能力）
◎靈活運用各種光纖架構，提供合格判定，級別分類等不可或缺的品質管理
◎感光元件具備有電子冷卻功能，輕鬆應付長時間的連續量測
◎高速化的量測，不妥協的高再現性數據
◎VCSEL量測 800-1000nm
量測項目
- 相關色溫與Duv
- 指定之波長高度量測
- 波峰（λmax）位置・高度・半高波寬
- 三刺激值（kX・kY・kZ）
- 色度座標（x・y）、色度座標（u・v）・（u’・v’）
產品資訊
| 產品特色 |
♦能與產線控制訊號同步
♦能配合各種量測系統需求
♦最短2ms～光譜測定（LE-5400）
♦有高速量測・演算能力
| 量測項目 |
三刺激値（kX, kY, kZ）*〔JIS Z 8724〕
色度座標(u, v)〔JIS Z8725〕
色度座標(x, y)〔JIS Z 8724〕
色度座標(u', v')〔JIS Z8781-5〕
主波長（Dominant）與刺激純度（Purity）〔JIS Z8781-3〕
相關色温度與Duv〔JIS Z 8725〕
演色性評價數（Ra, R1～R15）〔JIS Z 8726〕
Peak（λmax）波長、強度、半値幅
2nd Peak 波長與強度
積分値（Summation）
重心波長
指定波長強度
以Peak波長為基準, 短波長側、長波長側的積分値
* 明亮(kY)値、依待測LED與検出部的光学系有不同、
定位後(固定距離、位置、方向)再現性高。
規格樣式
| 型式 | LE series | ||||
|---|---|---|---|---|---|
| 型號 | A | B | C | D | E |
| 波長範圍 | 380-960nm | 220-800nm | 330-1100nm | 350-930nm | 800-1000nm |
| 方式 | Grating分光 | ||||
| 分光器 | F = 3, f = 135mm | ||||
| Grating | Blazed-holographic型 | ||||
| 檢出器 | 電子冷却型CCD Image sensor | ||||
| 光纖 | 長度約2 m, 光纖頭直徑約12 mm / 與LED距離：通常2 mm～8 mm（因LED指向特性有所差異） | ||||
| 消費電力 | 最大100 VA | ||||
| 本體&重量 | 280（W）x 160（H）x 296（D）mm， 約10 kg | ||||
裝置構成
| 系統架構・量測時間軸 |
Application
產業應用
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