界達電位粒徑分析儀ELSZ-2000ZS

量測原理

粒徑量測原理:動態光散射(光子相關法)

動態光散射(DLS)原理概要說明

溶液中的粒子會依據粒徑大小產生不同程度的布朗運動。小粒子的布朗運動較快，大粒子則反之。
當光照射在這些粒子上會產生散射光，小粒子的散射光強會劇烈變動，大粒子則會緩慢變化。
利用這些變化波動，可量測溶液中粒子的大小。

動態光散射光子相關計種類與ISO方法

上面提到動態光散射是利用光強度的變化量來進行量測，具體的作法如下所示。

機台會將因為布朗運動產生的散射強度變化，轉換為自相關函數，之後再轉換成粒徑分佈。
此方法符合ISO 22412:2017(早期為ISO13321:1996 以及 ISO 22412:2008，後來兩種ISO方法合併為ISO22412:2017)。
光子相關計還分為線性以及Log兩種，早期機台以線性相關為主，後續機台皆陸續轉換成Log相關。採用Log相關可使自相關函數的數據處理範圍更寬，可以較好量測到大粒子(微米以上的粒徑)。
 

動態光散射與其他粒徑分析方法比較

DLS方法主要應用粒徑範圍為奈米等級~跨到一些微米等級的粒徑分析，量測簡便快速。
更多與其他方法比較可以參考本站文章。
📖粒徑分析基本觀念，現行6種粒徑量測原理及方法完整說明→
 

動態光散射的粒徑分析結果

使用動態光散射後，會得到許多描述該結果的平均粒徑、粒徑分佈、D50...等等結果，每一種結果都有自己代表的意思。
如何看懂一份動態光散射量測結果報告，詳細看法可參考本站文章。
📖粒徑分佈圖怎麼看？完整解讀定義與曲線，明白技術運用在哪裡！→  

界達電位量測原理:電氣泳動光散射(Laser Doppler)

電氣泳動光散射法原理概要

對溶液中的粒子施加電場，  帶有電荷的粒子會產生電泳動，  藉由觀測此電泳動可以求得界達電位與電泳動遷移率。
此方法以粒子電泳時，產生的都卜勒效應使入射光的頻率產生改變，藉由分析頻差可求得粒子的泳動狀況，進一步得到界達電位結果。
  

界達電位量測中會產生的電氣滲透流

理想狀態下，我們可以直接量測粒子運動軌跡，直接求得zeta potential，實際上卻有一些技術需要克服。
在水或是溶劑中，除了我們要量測的粒子本身外，以水為例還有H+及OH-等離子存在。
因為管壁是帶負電材質的關係，H+等正離子會往管壁聚集。這些離子在通入電場後會產生自己的運動軌跡
實測Cell內數點的電氣泳動，以森・岡本公式實際解析電滲流，求得不受電滲流的靜止面的真正移動度。
因此樣品的吸附或沉澱等現象，造成非對稱電氣泳動結果，也可以得到高精度、高再現性的結果。
更多詳細說明請參考本站文章。
📖界達電位量測原理介紹，固態樣品表面電位(surface zeta potential)量測方法與實踐→

---

固體表面電位量測

固體表面電位概要-電滲流的延伸

固體表面電位是將平板樣本緊密接觸於盒型石英Cell上方而形成一體的構造。  
藉由實測在Cell深度方向上每個粒子泳動遷移率，  所得到的電滲流Profile可分析固體介面電滲流速度，進而求取平板樣本表面界達電位。

電滲流法與流動電位法的不同

流動電位法也是一種常見的量測固體表面電性的方法，以通入特定電解液後加壓產生液-固相的電壓差，量測電壓差後進行換算。
電滲流法量測固體樣品的表面電位與液態樣品間的交互作用，與需要通入特定電解液的流動電位法不同，電滲流法並不限定液相樣品可以更好的發揮交互作用的研究性。
因為不限定液體種類，廣泛利用在晶圓、玻璃、高分子、纖維、皮膚、塗層、過濾膜..等等可使用電性產生作用的固態物體表面。
例如:研磨液/清潔劑⇔晶圓、染劑⇔纖維、塗布劑⇔玻璃、保護層⇔容器...等等
更多詳細資訊可參考上述界達電位原理的同一篇文章。
📖界達電位量測原理介紹，固態樣品表面電位(surface zeta potential)量測方法與實踐→

規格樣式

	粒徑	界達電位
量測原理	動態光散射法(光子計數法)	電氣泳動光散射法(Laser Doppler)
光源	高功率半導體雷射
感光元件	高感度APD
樣品容器/容量	矩形容器:0.9mL~ 微量容器:20μL~	標準容器:0.7mL~
量測範圍	粒徑顯示範圍:0.1nm~1mm 信賴保證範圍:0.6nm~10μm	no limit
溫控系統	0~90℃(刻度:0.1℃、具梯度功能)
電源規格	100-120  VAC, 50-60 Hz, single phase
尺寸	380（W） × 600（D） × 210（H）mm
重量	約22kg

應用範圍

選配配件