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06Oct.2023
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光波動場三次元顯微鏡 MINUK
MINUK可直接量測nm等級的透明異物・缺陷・填充料。
1次可直接取得深度方向的所有情報,以非破壊・非接觸式量測的裝置。
並且不需要對焦,可以高速量測自由決定樣品任意位置。
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