27Mar.2023
活動訊息

研討會2023/05/31 & 06/01 【先端材料精準解析:全方位粒徑分析先進技術與應用】

活動已結束，感謝各位先進熱烈參與。
期待下次再相見。
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【5/31新竹場次】
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【6/01高雄場次】
7LINE_ALBUM_2023 全方位粒子分析及解決方案531新竹 601高雄_230601
 


先端材料精準解析:全方位粒徑分析先進技術與應用
動態光散射、電氣泳動光散射、 顆粒計數、影像處理、液態SEM技術分析

【新竹場】2023/05/31(三) 13:00~16:30
【高雄場】2023/06/01(四) 08:30~12:00

本次研討會主題為「先端材料精準解析:全方位粒徑分析先進技術與應用 」，超過半世紀粒徑分析開發經驗的大塚電子株式會社的日本量測技術負責人分享最新的應用與先進技術，以及有工研院背景的新銳公司邑流微測分享影像技術、液態SEM、線上解決方案等先端應用。另外，特別邀請兩位國內學界教授，於生物科技、材料領域中的經驗分享。本次研討會包含動態光散射、影像處理、SEM等多種粒徑分析技術，希望能為大家提供更多元的產學界的學術交流與產業應用。
活動免費參加，名額有限，請盡早報名。

大塚研討會視覺_第三版
活動簡介

本次研討會主題為「先端材料精準解析:全方位粒徑分析先進技術與應用」，我們很榮幸邀請到多位國內外知名專家學者分享最新的應用與先進技術。本次研討會包含動態光散射、影像處理、SEM等多種粒徑分析技術，並著重於先進技術的介紹與實際應用。
本次演講嘉賓分別為：
 
  • 大塚電子株式會社的日本量測技術負責人：分享大塚電子超過半世紀粒徑分析開發經驗，並介紹最新的應用與先進技術，讓大家更深入了解如何應用於不同類型的材料分析，內容包括界達電位、粒徑、固體表面電位等等。
  • 邑流微測的代表：分享影像技術、液態SEM、產線上解決方案等先進應用，帶領大家探索更多材料精準解析的可能性。
  • 兩位國內學界教授：分別從生物科技(新竹場)、材料領域(高雄場)中的經驗分享，讓大家更了解材料粒徑分析在不同領域的實際應用。

此次研討會不僅提供多元的學術交流平台，更讓產學界能夠共同探索粒徑分析的應用範圍與方法。相信這麼多粒徑分析方法，其中一定有最適合您的! 因場地大小關係，本次名額有限，歡迎有興趣的材料開發產學業界同仁踴躍報名參加。
 

報名資訊

👉新竹場 2023/05/31 13:00~16:30 

📍集思竹科會議中心-愛因斯坦廳 201會議室 新竹科學園區東二路1號

👏特別邀請:臺北醫學大學 醫學檢驗暨生物技術學系 劉俊仁副教授

🎯主題 主題簡介 🤵主講者 主講者簡介
日新月異：
「界達電位粒徑的最新應用案例」		 為您介紹最前沿的界達電位、粒徑、固體表面電位等項目應用於半導體、生物科技、材料等等領域的最新發展應用。 橋田紳乃介
(中文同步口譯)		 大塚電子株式會社
開發部 應用量測技術組負責人
積於跬步：
「光散射界達電位粒徑量測」技術介紹		 大塚半世紀累積的光散射量測方法的原理簡述及量測方法介紹，包含於從產品開發到產線上品管的各種使用情境最佳選擇。 賴彥成 大塚科技股份有限公司
營業部 副理
Application of particle sizer in lipid-based drug development- experience sharing 粒徑分析儀在脂類藥物開發的應用-經驗分享 開發脂質奈米藥物需要幾個參數來評估其有效性和安全性，兩個關鍵參數是size分佈和 Zeta potential，我們將分享產品開發中必須考慮的質量控制和知識，提供藥物發開者一個參考方向。 劉俊仁 臺北醫學大學
醫學檢驗暨生物技術學系 副教授
精準數據：
「AI動態影像粒子」分析攻略		 詳解如何透過獨家EDOF技術大幅提升粒徑分析可靠度，解析最精準之粒子相關數據。 林鈺凱 邑流微測股份有限公司
解決方案部 研發博士
關鍵突破：
「高階液態材料如何於SEM底下維持原貌」技術說明		 突破性液態檢測解決方案Flow AOI，橫跨研發到即時監控(含in-situ液態SEM、智慧化產線多通道粒子量測、電化學...)，非常適合高階材料研發、濕製程微汙染監測等應用。 施敏權 邑流微測股份有限公司
解決方案部 副理

新竹場地資訊

👉高雄場 2023/06/01 08:30~12:00 

📍高雄國際會議中心 高雄市鹽埕區中正四路274號 6F 605會議室

👏特別邀請:國立中山大學 化學系 曾韋龍特聘教授

🎯主題 主題簡介 🤵主講者 主講者簡介
日新月異：
「界達電位粒徑的最新應用案例」		 為您介紹最前沿的界達電位、粒徑、固體表面電位等項目應用於半導體、生物科技、材料等等領域的最新發展應用。 橋田紳乃介
(中文同步口譯)		 大塚電子株式會社
開發部 應用量測技術組負責人
積於跬步：
「光散射界達電位粒徑量測」技術介紹		 大塚半世紀累積的光散射量測方法的原理簡述及量測方法介紹，包含於從產品開發到產線上品管的各種使用情境最佳選擇。 賴彥成 大塚科技股份有限公司
營業部 副理
Zeta potential對於研究奈米材料的重要性 Zeta potential 是奈米材料研究中一個非常重要的參數。Zeta potential的絕對值大小對於奈米材料的表面特性和穩定性有一定的代表性，因此材料的開發與應用都可以藉由Zeta potential來確認，甚至可以作為往後品管的標準。 曾韋龍 國立中山大學
化學系 特聘教授
精準數據：
「AI動態影像粒子」分析攻略		 詳解如何透過獨家EDOF技術大幅提升粒徑分析可靠度，解析最精準之粒子相關數據。 林鈺凱 邑流微測股份有限公司
解決方案部 研發博士
關鍵突破：
「高階液態材料如何於SEM底下維持原貌」技術說明		 突破性液態檢測解決方案Flow AOI，橫跨研發到即時監控(含in-situ液態SEM、智慧化產線多通道粒子量測、電化學...)，非常適合高階材料研發、濕製程微汙染監測等應用。 施敏權 邑流微測股份有限公司
解決方案部 副理

高雄場地資訊

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※本活動謝絕同業參加，並禁止於研討會期間錄音錄影，敬請見諒。
※因場地大小關係，名額有限，請盡早報名以免向隅。
 
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