依據歐盟施行的個人資料保護法，我們致力於保護您的個人資料並提供您對個人資料的掌握。 我們已更新並將定期更新我們的隱私權政策，以遵循該個人資料保護法。請您參照我們最新版的 隱私權聲明。
本網站使用cookies以提供更好的瀏覽體驗。如需了解更多關於本網站如何使用cookies 請按 這裏。
-
07Oct.2024
20241114線上研討會 【半導體製程中的膜厚量測技術和挑戰】
半導體製程的膜厚度是確保製程品質和性能的關鍵因素之一，在這個研討會中，我們將深入探討傳統和先進的膜厚量測技術，並討論在實際製程中面臨的挑戰。
-
11Sep.2024
20241024線上研討會 【界達電位粒徑分析量測原理及最新應用】
不論是粒徑還是界達電位都是幫助我們觀察樣品分散效果的重要指標，除了一般的量測以外，我們還將分享包括不透光樣品、高鹽度樣品、固體樣品等等大塚特有的量測強項。
-
30Jul.2024
新產品~【手持式SMART膜厚計】⭕高精度、非破壞、手持式膜厚計⭕
高精度、非破壞、手持式膜厚計，可攜帶到現場的手持式輕量機型(約1.1Kg)，0.1μm單位的量測精度,0.01μm的重複精度，以非破壞式量測各類形狀的樣品，不限定基材材質，可量測coating膜層，不需要量測經驗，可快速得到精準的膜厚結果。
-
-
27Mar.2024
2024/08/07線上研討會 【次世代顯示技術-量子點色轉換檢測方案】
我們將介紹最新的量子點色轉換檢測方案，包括顯示器產業發展現況、量子點色轉換技術原理、量子點材料檢測設備介紹等。
-
03Apr.2024
新產品~【量子點光阻EQE量測儀 TQ-10】針對量子點光阻(QDPR)樣品一套最適合的量測系統
多年累積的光學技術開發經驗，特別針對量子點光阻(QDPR)樣品設計的一套最適合的量測系統，可在數秒的時間內透過簡易的3個步驟完成樣品量測與數據解析。
-
03Apr.2024
研討會2024/05/21~23 【關鍵突破:2024先進材料精準粒子分析研討會】
本次研討會主題為「2024先進材料精準粒子分析研討會」，超過半世紀粒徑分析開發經驗的大塚電子株式會社的日本量測技術負責人分享最新的應用與量測上的knowhow，各種意想不到的界達電位、粒徑大小、表面電位等在各領域的關鍵突破。 此外，工研院背景的新銳公司邑流微測分享包括半導體及生醫製藥等熱門領域，聚焦在潔淨、智慧製造等關鍵字，引領ESG最新潮流。 究竟日本光學技術大廠與台灣的新秀公司能擦出什麼火花!?希望能為大家提供更多元的產學界的學術交流與產業應用。名額有限，請盡早報名。
-
-
27Mar.2024
2024線上研討會 【掌握前沿光學膜厚量測技術 : 認識光干涉的原理與應用】
我們將介紹最新的光學膜厚量測技術，包括光干涉的原理與應用。在本次研討會中我們為您簡介如何使用光學量測儀器量測薄膜的厚度，精確掌握產品的品質控制與生產效率。我們將與您分享最佳的實踐方法與技巧。
-
16Jan.2024
2024線上研討會 【固體表面電位解密:板狀、薄膜狀樣品表面電位量測方法與範例介紹】
你知道電位量測除了在溶液中，也有在固體的量測方法嗎?
我們將介紹固體表面電位量測方法以及與其他量測方法比較，並著重於介紹固體表面電位的實用範例供您參考。 -
06Oct.2023
新產品~【光波動場3D顯微鏡 MINUK】以非接觸的方式，奈米級的解析度，快速取得三維方向的所有訊息!
MINUK可直接量測nm等級的透明異物・缺陥。1次可直接取得深度方向的所有情報，以非破壊・非接觸式量測的裝置。
並且不需要對焦，可以高速量測自由決定樣品任意位置。 -
11Sep.2023
20231129線上研討會 【半導體製程中的膜厚量測技術和挑戰】
半導體製程的膜厚度是確保製程品質和性能的關鍵因素之一，在這個研討會中，我們將深入探討傳統和先進的膜厚量測技術，並討論在實際製程中面臨的挑戰。
-
10Aug.2023
20231109線上研討會 【界達電位粒徑分析量測原理及最新應用】
不論是粒徑還是界達電位都是幫助我們觀察樣品分散效果的重要指標，除了一般的量測以外，我們還將分享包括不透光樣品、高鹽度樣品、固體樣品等等大塚特有的量測強項。
-
-
05Jun.2023
2023線上研討會 【固體表面電位解密:板狀、薄膜狀樣品表面電位量測方法與範例介紹】
你知道電位量測除了在溶液中，也有在固體的量測方法嗎?
我們將介紹固體表面電位量測方法以及與其他量測方法比較，並著重於介紹固體表面電位的實用範例供您參考。 -
27Mar.2023
研討會2023/05/31 & 06/01 【先端材料精準解析:全方位粒徑分析先進技術與應用】
本次研討會包含動態光散射、影像處理、SEM等多種粒徑分析技術，希望能為大家提供更多元的產學界的學術交流與產業應用。
-
03Mar.2023
2023線上研討會 【掌握前沿光學膜厚量測技術 : 認識光干涉的原理與應用】
我們將介紹最新的光學膜厚量測技術，包括光干涉的原理與應用。在本次研討會中我們為您簡介如何使用光學量測儀器量測薄膜的厚度，精確掌握產品的品質控制與生產效率。我們將與您分享最佳的實踐方法與技巧。
-
-
03Oct.2022
【台北國際儀器展】2022.10.28~31大塚科技與辛耘企業聯合展出
三年一度台北國際儀器展，大塚科技與辛耘企業共同展出。
現場眾多儀器展示及專業人員解說，歡迎產業先進蒞臨參觀指導。 -
-
-
25Mar.2022
線上新機說明介紹會~2022.09.22 【ELSZneo線上新機說明會】
大塚電子集結半世紀以來散射光研究經驗，全新進化升級。
最穩定、最高精度、對應最多樣的樣品的界達電位粒徑分析儀。 -
-
-
-
-
-
-
-
-
-
-
-
-
-
-
-
-
-