量子點材料粒徑量測

量子點材料以控制粒子的奈米等級(2nm~10nm)控制放光波長,達到不同顏色效果。 一般在監控奈米粒徑大小以TEM及DLS為主。 TEM能直接看到粒子大小,但是量測前處理較為繁瑣,且機台本身價位較高。 DLS則是量測較為簡便,但因材料本身會有螢光放出,市面上的動態光散射粒徑機台會受到螢光的影響而無法量測。大塚電子機台內部構造,能以物理式去除螢光影響,直接量測量子點之粒徑分布。 且配合QE系列量子效率量測系統,能夠量測量子效率之絕對值。(PL系統為相對值) 為量子點材料提供完整的量測解決方案。 上圖為量子效率量測結果,下圖為量子點粒徑量測。    

參考機型