A

基材・製膜

• 

  – ELSZ –

  界達電位 & 粒徑量測儀

• 

  – PP –

  高分子相結構 分析系統

• 

  – Linescan –

  LineScan 線上膜厚檢查裝置

• 

  – MCPD –

  光譜儀 (高動態範圍分光)

• 

  – SF3 –

  分光干涉式 WAFER膜厚計

• 

  – RETS 100 –

  相位差 / 光學材料量測設備

• 

  – RE –

  低相位差 高速檢測設備

項目

膜材填充材料或塗層劑的分散性評價相關事例

膜材的構造解析「相關長」及「球晶徑」的量測相關事例

膜材的全面厚度量測相關事例

PET膜厚量測相關事例

原反膜材的異方性量測相關事例

PVA(偏光膜)的吸收軸量測相關事例

機種

ELSZ

PP1000

LineScan

MCPD

SF-3

RETS-100nx

RE-200

B

塗層・成膜

• 

  – OPTM –

  顯微分光膜厚計

• 

  – Linescan –

  LineScan 線上膜厚檢查裝置

• 

  – MCPD –

  光譜儀 (高動態範圍分光)

項目

AR層膜厚檢查相關事例

ITO層膜厚檢查相關事例

機種

OPTM

LineScan

MCPD

C

貼合

• 

  – Linescan –

  LineScan 線上膜厚檢查裝置

• 

  – MCPD –

  光譜儀 (高動態範圍分光)

項目

有機EL顯示器偏光板及λ/4板的貼合相關事例

機種

LineScan

MCPD

D

切合・裁斷

E

組裝・製品