顯示器
全面 ”進化・深化”
核心技術
核心技術
About Us
關於我們
日本光學檢測儀器大塚電子在台子公司
利用光學的技術，我們的使命是提供具有尖端技術的解決方案。產品包括光學膜厚量測、粒徑界達電位量測、高感度光譜儀等尖端技術。
繼承了大塚集團通過執行力和創造力證明的 DNA，我們專注於我們所做的事情以及我們作為大塚人可以實現的目標。 大塚科技通過其創新和創意的產品和服務，努力為世界各地人們更健康、更繁榮的生活做出貢獻。
全面 ”進化・深化”
核心技術
核心技術
服務據點
售後服務
Solution
產品與應用產業
-
01
顯示器 Display藉由分光量測技術代名詞的分光光譜儀與長年累積的專業解析技術提供全方位的光學檢測設備。Read More
在對應多樣化的顯示器量測需求的同時，我們也持續不斷向更廣泛的產業領域持續拓展。 -
LED
03
LED Light Emitting Diode利用光學的技術，針對各種自發光體(包括LED)提供輝度, 照度, 光通量流明值, 配光等各項解決方案, 使用高感度光譜儀針對微小發光體也能有高精度, 高再現性的量測結果。Read More
- 01
- 02
- 03
- 04
- 05
- 06
Event message
活動消息
Webinars and Events
-
20Apr.2026
【全新改版✨】精準量測，一手掌握｜SMART 膜厚計 Pro 升級版
尋找高精度且不傷樣品的膜厚量測方案？SMART 膜厚計 Pro 升級版專為現場快速檢測設計，提供非破壞、高重現性的量測數據。不論是出貨驗收還是產線抽檢，隨身攜帶的 Pro 版能有效解決傳統量測儀器笨重、操作複雜的痛點。
-
01Apr.2026
研討會2026/06/09-10 【微奈米粒徑分析技術論壇：光散射與雷射繞射的關鍵數據解析】
掌握跨尺度粒徑分析與界面電性鑑定：定義材料開發的安定性指標
在當前半導體、先端能源、光電材料及生物科技等精密產業中，「微奈米化」已是產品升級的必經之路。然而，如何精準量測跨尺度（奈米至微米級）的粒徑分佈，並有效解決材料在製程中的「凝聚」與「沈降」問題，始終是研發與品管工程師面臨的最大挑戰。 -
24Sep.2025
20251023 線上研討會 【界達電位粒徑分析量測原理及最新應用】
不論是粒徑還是界達電位都是幫助我們觀察樣品分散效果的重要指標，除了一般的量測以外，我們還將分享包括不透光樣品、高鹽度樣品、固體樣品等等大塚特有的量測強項。
Technical Articles
技術文章
Popular Technical Articles
-
29Jan.2026
電泳光散射ELS是什麼？圖解量測原理與Zeta電位方法！
在膠體、懸浮液或奈米粒子系統的穩定性分析中，「電泳光散射（Electrophoretic Light Scattering，ELS）」是一項重要的量測技術。透過施加電場讓帶電粒子產生電泳運動，ELS結合都卜勒頻移分析，即可精準推算粒子的Zeta電位。 Zeta電位為界面電性的重要指標，可用於判斷系統穩定性、表面修飾效果或分散行為，應用橫跨材料科學、半導體、製藥與環境工程等領域。本文將以圖解方式說明電泳光散射的量測原理，並介紹Zeta電位的常見量測方法與條件，協助你掌握界面科學分析的核心工具！
-
13Jul.2026
晶圓鍵合中的電漿改質表面 Zeta 電位量測與製程控制
晶圓鍵合成功率與 SiO₂ 表面電荷、等離子活化條件高度相關。本文介紹如何以 ELSZneo 進行表面 Zeta 電位量測，助您掌握 OH 基密度變化、提升直接接合品質，強化先進封裝與 3D IC 製程穩定性。
-
21Sep.2026
薄膜厚度量測種類有哪些？清楚了解技術原理，實際應用範圍看這邊！
市面上販售的薄膜厚度量測種類眾多，總是讓人眼花撩亂不懂得如何選擇？而膜厚的監控，無論是在製程中或是成品上都是十分重要的。不同的厚度或是不好的面內厚度分布，都有可能會無法達到我們想要的物理性質。而薄膜厚度量測原理又是什麼？為什麼各家廠牌紛紛推出薄膜厚度量測販售？就讓我們一起來深入瞭解吧！
