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【輕巧便攜✨】零經驗也能用!手持式SMART膜厚計
【高速2秒測量⚡】奈米級非接觸3D量測 ⭕無需逐層對焦・自由觀察任意深度⭕
【全新進化升級🔥】大塚電子50年散射光研究集大成 ⭕從稀溶液到濃溶液,奈米粒徑到固體表面電位精準量測⭕
【顛覆傳統⚡】超高速1秒測量 ⭕媲美橢圓偏光儀的1nm極薄膜量測・3μm微小聚焦・精度速度完美演繹⭕
【零汙染⚡一鍵5連測】奈米粒徑量測 ⭕最多可擴充至50檢體・高效精準⭕
利用光學的技術,我們的使命是提供具有尖端技術的解決方案。產品包括光學膜厚量測、粒徑界達電位量測、高感度光譜儀等尖端技術。 繼承了大塚集團通過執行力和創造力證明的 DNA,我們專注於我們所做的事情以及我們作為大塚人可以實現的目標。 大塚科技通過其創新和創意的產品和服務,努力為世界各地人們更健康、更繁榮的生活做出貢獻。
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敬邀參觀~2025 touch TAIWAN智慧顯示展(4/16-18)
半導體製程的膜厚度是確保製程品質和性能的關鍵因素之一,在這個研討會中,我們將深入探討傳統和先進的膜厚量測技術,並討論在實際製程中面臨的挑戰。
高精度、非破壞、手持式膜厚計,可攜帶到現場的手持式輕量機型(約1.1Kg),0.1μm單位的量測精度,0.01μm的重複精度,以非破壞式量測各類形狀的樣品,不限定基材材質,可量測coating膜層,不需要量測經驗,可快速得到精準的膜厚結果。
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平均粒徑與粒徑分佈圖是什麼關係? 常見的D10、D50、D90等等又分別代表什麼意義?
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