顯示器
全面 ”進化・深化”
核心技術
核心技術
About Us
關於我們
日本光學檢測儀器大塚電子在台子公司
利用光學的技術，我們的使命是提供具有尖端技術的解決方案。產品包括光學膜厚量測、粒徑界達電位量測、高感度光譜儀等尖端技術。
繼承了大塚集團通過執行力和創造力證明的 DNA，我們專注於我們所做的事情以及我們作為大塚人可以實現的目標。 大塚科技通過其創新和創意的產品和服務，努力為世界各地人們更健康、更繁榮的生活做出貢獻。
全面 ”進化・深化”
核心技術
核心技術
服務據點
售後服務
Solution
產品與應用產業
-
01
顯示器 Display藉由分光量測技術代名詞的分光光譜儀與長年累積的專業解析技術提供全方位的光學檢測設備。Read More
在對應多樣化的顯示器量測需求的同時，我們也持續不斷向更廣泛的產業領域持續拓展。 -
LED
03
LED Light Emitting Diode利用光學的技術，針對各種自發光體(包括LED)提供輝度, 照度, 光通量流明值, 配光等各項解決方案, 使用高感度光譜儀針對微小發光體也能有高精度, 高再現性的量測結果。Read More
- 01
- 02
- 03
- 04
- 05
- 06
Event message
活動消息
Webinars and Events
-
11Sep.2024
20250807線上研討會 【生醫領域中的物性分析-粒徑及高鹽度界達電位】
在藥物傳遞、仿生材料及奈米製劑開發中，如何於真實生理條件下準確掌握膠體界面電性，是關鍵技術挑戰之一。本次研討會將介紹一套可於 PBS、NaCl 等高鹽環境中直接量測界達電位的進階解決方案，有效模擬體內藥物顆粒或生醫材料的實際表現。
此外，系統亦支援固體表面電位分析，協助開發各類生醫相容材料，並整合粒徑、濃度、黏彈性與多角度散射等多元量測功能，提供完整的樣品電性與物理特性評估平台，廣泛應用於藥物設計、細胞外囊泡、奈米粒子等領域。 -
02May.2025
研討會2025/06/17-18 【從奈米到微米：粒徑與形態分析的前沿技術與未來趨勢】
本研討會聚焦於粒徑與形態分析技術的最新進展，涵蓋光散射、3D顯微、晶片電位與流體粒子影像分析等領域。透過業界專家的專題演講，探討從奈米尺度到微米尺度之量測應用，並解析未來技術發展趨勢，協助與會者掌握在材料、生醫與半導體等領域中的關鍵分析能力。
-
30Jul.2024
【輕巧便攜✨】零經驗也能用！手持式SMART膜厚計 ⭕高精度・非破壞・隨身攜帶⭕
高精度、非破壞、手持式膜厚計，可攜帶到現場的手持式輕量機型(約1.1Kg)，0.1μm單位的量測精度,0.01μm的重複精度，以非破壞式量測各類形狀的樣品，不限定基材材質，可量測coating膜層，不需要量測經驗，可快速得到精準的膜厚結果。
Technical Articles
技術文章
Popular Technical Articles
-
-
13Mar.2023
界達電位量測原理介紹，固態樣品表面電位(surface zeta potential)量測方法與實踐
界達電電位代表的意義，包括正負號、絕對值、以及對分散性的影響。 該如何量測界達電位以及電氣滲透流產生的影響，最後再推廣到固體樣品的表面電位量測方法。
-
