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關於我們

日本光學檢測儀器大塚電子在台子公司

利用光學的技術,我們的使命是提供具有尖端技術的解決方案。產品包括光學膜厚量測、粒徑界達電位量測、高感度光譜儀等尖端技術。
繼承了大塚集團通過執行力和創造力證明的 DNA,我們專注於我們所做的事情以及我們作為大塚人可以實現的目標。 大塚科技通過其創新和創意的產品和服務,努力為世界各地人們更健康、更繁榮的生活做出貢獻。

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活動消息

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  • 08Aug.2025

    20250923線上研討會 【半導體量測技術應用分享:CMP製程中界面電荷行為分析與TGV孔洞3D形貌量測】

    本場將深入探討奈米尺度觀察技術在先進半導體製程中的應用,首先解析CMP製程中晶圓與研磨液之間的界面電荷行為,說明其對製程穩定性與成品品質的影響;其次介紹TGV孔洞三維形貌量測技術,分享實際案例與最新觀測成果,協助業界掌握製程優化與檢測新趨勢。

  • 11Sep.2024

    20250807線上研討會 【生醫領域中的物性分析-粒徑及高鹽度界達電位】

    在藥物傳遞、仿生材料及奈米製劑開發中,如何於真實生理條件下準確掌握膠體界面電性,是關鍵技術挑戰之一。本次研討會將介紹一套可於 PBS、NaCl 等高鹽環境中直接量測界達電位的進階解決方案,有效模擬體內藥物顆粒或生醫材料的實際表現。
    此外,系統亦支援固體表面電位分析,協助開發各類生醫相容材料,並整合粒徑、濃度、黏彈性與多角度散射等多元量測功能,提供完整的樣品電性與物理特性評估平台,廣泛應用於藥物設計、細胞外囊泡、奈米粒子等領域。

  • 30Jul.2024

    【輕巧便攜✨】零經驗也能用!手持式SMART膜厚計 ⭕高精度・非破壞・隨身攜帶⭕

    高精度、非破壞、手持式膜厚計,可攜帶到現場的手持式輕量機型(約1.1Kg),0.1μm單位的量測精度,0.01μm的重複精度,以非破壞式量測各類形狀的樣品,不限定基材材質,可量測coating膜層,不需要量測經驗,可快速得到精準的膜厚結果。

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