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螢光膜檢查系統(透過螢光測定系統)DF-1000A

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螢光膜檢查系統(透過螢光測定系統)

新製程螢光模的光學特性量測

產品特色

採用新型受光頭, 可實現高速高精度量測

以非接觸的方式, 量測面內色度分布

內藏校正功能, 可長時間確保量測值的穩定

可使用於R&D, Inline量測, IQC入料檢查

短時間多點量測

可追朔 日本JCSS規範

量測項目

透過蛍光光譜

分光放射照度(W/m2/nm)

色温度(K)

色度(x・y)

積分值(W / m2)

膜厚(option)

應用範圍

螢光膜 ・YAG, TAG, Orthosilicate
・α-Sialon (氮化物), β-Sialon (氮化物)
・CaAISiN (氮化物), 氮氧化物, 量子點等
螢光陶瓷板

量測範例

色度分布圖 色度分布圖