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【關鍵突破:2024先進材料精準粒子分析研討會】


202405粒徑研討會1
 
本次研討會主題為「2024先進材料精準粒子分析研討會」,超過半世紀粒徑分析開發經驗的大塚電子株式會社的日本量測技術負責人分享最新的應用與量測上的knowhow,各種意想不到的界達電位、粒徑大小、表面電位等在各領域的關鍵突破。 此外,工研院背景的新銳公司邑流微測分享包括半導體及生醫製藥等熱門領域,聚焦在潔淨、智慧製造等關鍵字,引領ESG最新潮流。。
【新竹場】2024/05/21 13:00~
【台中場】2024/05/22 13:00~
【高雄場】2024/05/23 13:00~
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AL-1000

micro LED光度量測系統 AL-1000

對應CIE-127 condition B(100mm)量測條件
搭配探針式電極
最低亮度1ucd值量測(WD=20mm)
內建CCD, 量測點位採雷射對位
量測範圍
A. 光度(cd)測定範囲 : 1[ucd]-500[cd]
B. 最小光度測定範囲 : 1ucd@WD20mm,5ucd@WD100mm,100ucd@500mm*1
C. 最大発光面的直径 : 100mm
D. 量測距離 : 20,100,500mm

量測項目

  • Micro-LED chip 光學特性; 光度(cd) , CIE X,Y,Z , etc.
  • Micro-LED Chip 電氣特性

規格樣式

型式 MicroLed chip 光度量測系統
測定治具 光學套筒
給電方式 Probe Needle Station
感光元件 CCD AREA SENSOR 512CH,TE-cooled
精度 A. 光度(cd) : ±4% ; B. 波長 : ±0.5nm ; C. 色度(x,y) : ±0.002
再現性 A. 光度(cd) : ±2% ; B. 色度(x,y) : ±0.002
感度 光度(cd)測定範囲 : 1[ucd]-500[cd]
最小光度 : 1ucd@WD20mm,5ucd@WD100mm,100ucd@500mm*1
最大発光面的直径 : 100mm
量測距離 : 20,00,500mm
電源 Keithley 2450
量測項目 ●電氣特性
(1) DC順方向電圧(VF,V) ; (2) DC順方向電流(IF,A)
●光學特性
(1) 光度(cd) ; (2) CIE X,Y,Z ; (3) CIE x,y,z ; (4) CIE u,v ; (5) CIE u’,v’ ; (6) WP ;(7) WPV ; (8) WD ; (9) FWHM ; (10) CP ; (11) CCT ; (12) Duv,CRI Ra

產品特色

對應CIE-127 condition B(100mm)量測條件
搭配探針式電極
最低亮度1ucd值量測(WD=20mm)
內建CCD, 量測點位採雷射對位

量測範圍

A. 光度(cd)測定範囲 : 1[ucd]-500[cd]
B. 最小光度測定範囲 : 1ucd@WD20mm,5ucd@WD100mm,100ucd@500mm*1
C. 最大発光面的直径 : 100mm
D. 量測距離 : 20,100,500mm

軟體畫面

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系統架構圖

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